-
变温变磁霍尔效应测试仪HET-3TM
变温变磁霍尔效应测试系统HET-3TM支持标准法和范德堡法两种测量方法。其中标准法通过测量特定方向电压差计算参数；范德堡法测量材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等电运输性能参数，该方法可对薄膜或薄层材料进行测量 参考价面议 -
科教一体霍尔效应测试仪
教学仪器的价格，科研设备的体验：科教一体霍尔效应测试仪HET-3L是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考。 参考价面议 -
手动探针台LNP-3RT
探针台LNP-3RT为微米级小尺寸样品电特性测试提供高精度、高接触可靠性的可控测量环境。设备通过CMA中国计量认证。 参考价面议 -
高低温探针台(LNP）
高低温探针台(LNP）系列，为小尺寸样品测量电特性，提供高精度可控的测量环境，帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。可以实现基础测试、保护气氛电路测试、高低温真空探针台、超高频探针台、光电流分析、FA失效分析等测量和分析平台。 参考价面议 -
霍尔效应测试系统(HET-3)
霍尔效应测试系统HET-3依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。 参考价面议 -
教学霍尔系数测试仪(HET-3EL)
教学霍尔系数测试仪(HET-3EL)，运用范德堡法，可用于测试教学样品的霍尔系数、载流子浓度、载流子迁移率等，可为大专院校提供专业、便捷、快速高效的教学实训服务。 参考价面议 -
冷热台（LND）
冷热台（LND）系列，可实现连续变温及逐点控温，控温精度±0.5K；通过控制热源（电阻加热器）和冷源（液氮）来维持样品所要求温度的一种装置，其采用PID调节与模糊控制相结合的方式进行温度控制，能有效实现大温区连续控制，按照既定程序升温及保温等。 参考价面议 -
红外加热灯管
红外加热灯管是快速退火炉RTP系列配件，使用卤素循环设计，响应时间短。可以配合复杂的加热编程，达到精准可控的红外能量输出，满足半导体工业对精确温度与加热区域的严格要求。 参考价面议 -
石英样品托架
石英样品托架是快速退火炉RTP系列配件，采用高纯度石英砂（99.95%）精密制造，高温环境下仍可保持稳定的化学性质。用于承载石墨托盘，也可以直接承载晶圆。适用于1-12英寸快速退火炉。 参考价面议 -
TC-Wafer校准仪
TC-wafer校准仪是一款应用于晶圆温场均匀性实时测量校准的仪器设备,并能生成报告。 参考价面议 -
便携式教学泽贝克系数测试仪 PTM-1
便携式教学泽贝克系数测试仪(PTM-1)，运用动态法，可用于测试样品的泽贝克系数，为大专院校提供专业、便捷、快速高效的教学实训服务。 参考价面议 -
薄膜热电参数测试系统(MRS-3RT)
薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。 参考价面议