X-RAY半导体膜厚仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等.
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金.
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金.
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等.
双镀层：其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

X-RAY半导体膜厚仪是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪，可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求。
用*的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上，拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
测量技术同行15年，在同测量领域风蚤，成为膜厚仪*，精准的数据，*的技术，严格的品质要求，可靠、可信、快速的服务，及一些专业意见与技术扶持，值得您的信赖。

: 舒翠 
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