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X-RAY镀层膜厚测试仪软件包括 :
(1)X射线部件的操作
(2)控制整个测量过程
(3)*的基本参数法可进行无标准片测量
(4)用受认证的标准片进行校准,可以完成有标准片调校的测量
(5)可以同时分析材料成分和测量计算镀层厚度
(6)按照元素波峰进行自动元素识别
(7)测量值可以以karat, wt% 或 ‰表示
(8)客户自定义报表工具
X-RAY镀层膜厚测试仪是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪,可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求。
用*的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大,可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上,拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
测量技术同行15年,在同测量领域风蚤,成为膜厚仪*,精准的数据,*的技术,严格的品质要求,可靠、可信、快速的服务,及一些专业意见与技术扶持,值得您的信赖。
: 舒翠
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