电阻测试仪阻仪方块电阻测试仪块电阻测定仪探针方块电阻测试仪电测四探针测试仪四探针测试仪电四探针测试仪电四探针电阻率测试仪电四探针方阻测试仪块电阻测试仪功能探针测试仪精度四探针测量仪面电阻测试仪积电阻测试仪探针表面电阻测试仪探针体积电阻测试仪阻仪电阻率阻测试仪 导电薄膜方块电阻测试仪导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)块电阻测试仪 方阻计/电阻测试仪/方阻仪/塑料薄膜金属镀层方块电阻测试仪探针电阻率/方阻测试仪四探针电阻率方阻测试仪片电阻率/薄膜方阻测试仪/四探针电阻率测试仪四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻四探针电阻率(电导率)测试仪 四探针电阻率方阻测试台探针双位组合测量探针测试仪-四探针测试仪品质四探针测试仪导体材料测试能型双电测四探针测试仪电测数字式四探针测试仪/电阻率测试仪/方阻仪电测四探针测试仪价格探针法探针测试仪电测数字式四探针测试仪电测四探针测试仪电测四探针软件测试系统电测四探针软件双电测四探针测试仪使用说明书电测四探针双电极四探针测试仪 测试探针批发_测试探针供应_测试探针厂家探针测试仪测量薄膜的电阻率探针电阻测试仪探针-硅材料测试仪-四探针法针测试台、四探针探头薄膜电阻测试仪探针测试仪四探针测试仪价格批发采购单晶硅四探针测试仪导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试易四探针测试仪探针测试仪四探针粉末电导率测试仪字式四探针测试仪_数字式四探针测试仪/数字式四探针测试仪 四探针 四点探针 四探针测试仪探针电阻率测试仪 方阻仪 薄膜方阻直线四探针探头方阻测试仪 方块电阻测试仪四探针粉末电导率测试仪 多功能数字式四探针测试仪 四探针检测仪电池片方阻测试仪电阻率测试仪 四探针薄膜方阻测试仪 数字式四探针测仪 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻范围10-4～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-5～2×106Ω-cm10-5～2×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流范围0.1μAμA0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA0.1μAμA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% 50Hz 功耗：<30W 9.整机不确定性误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台 ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 与精致并重；与智慧之原