X荧光光谱分析仪

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YZX-1000

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一、 公司介绍}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;3

二、 产品介绍及技术指标}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;4

三、 产品配置、功能、分析精度及稳定性}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;5

四、 产品优势及软件说明}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;7

产品保修及售后务}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;15

六、 主要户名单}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;}39;16

一、公司基本情况介绍

是一家研发、制造、销售金属成份分析、环保、重金属分析等领域光谱仪器开发的民营高科技公司，公司以技术、品牌、质量、务为核心，为国内外户提供高质量、高性能和平价的金属成分与环保分析检测仪器产品及解决案，产品居国内同类产品位。

公司研制的金属分析光谱仪，集金属成份分析、RoHS检测、镀层厚度检测于一体，具备*的性价比。产品广泛应用于矿山、化工、金银首饰、冶炼及金属加工、机械与制造等行业，对企业产品品质检测、成本控制、生产效率的提高有着*的经济实用价值。经过大量环境试验、生物实验及相关检测实验中心的数据验证，本公司所生产的金属分析光谱仪的精确度及性能居国内同行业位，测试范围由RoHS的六种物质扩大到六十几种元素，而且还可以按照自身要求任意添加，该列仪器在满足普通RoHS环保检测的基础上，还可对金属材料成份进行精确的定性定量分析，中国金属分析领域在此面的空白，可与国外发达国家的同类设备相媲美。

公司立足、面向未来，致力于研发制造技术更、功能更全面、布局更完善的光检测分析仪器，形成用于金属、非金属成分分析检测的ICP离、激光、荧光、火花直读等品类列及用于环境、食品、有机物成分检测分析的仪器的完整列产品，让公司步同类企业行列。

公司研发队伍强劲，并与美国密西根大学光谱领域专家、清华大学精密仪器教授、韩国ISP公司携手合作，以欧美现有技术为基础，在X射线光谱仪核心技术上取得重大突破的同时，还拥有多项的技术和差异化产品，多项核心技术处水平。

公司视产品质量为企业之基，依据ISO9001质量控制体和ISO14001环境管理体，对已定型产品在其来料、加工过程、整机、出货各个环节严格把关，确保产品的性能和质量精优。

二、产品介绍及技术指标

1. 产品名称及型号 X射线金属成份分析光谱仪 - YZX-1000

2. 制造商

3. 产品图片

X射线金属成份分析光谱仪 型号YZX-1000

4. 工作条件

● 工作温度15-30℃

● 相对湿度≤70%

● 源AC 220V ±5V

● 功 率150W + 550W

5. 技术性能及指标

● 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；

● 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；

● 测量时间80-120秒；

● 多次测量重复性可达0.1％；

● 能量分辨率为130±5伏特；

● 温度适应范围为15℃至30℃；

● 源交流220V±5V（建议配置交流净化稳压源。）；

● 多变量非线性去卷积曲线拟合；

● 高斯平滑滤波校正；

● 高性能FP软件、MLS分析；

● 一次可同时分析25个元素；

三、产品配置、功能、分析精度及稳定性

（一）产品配置

1.硬件主机壹台，含下列主要部件

(1) X光管；

(2) 制冷半导体探测器（SDD）；

(3) 控制统；

(4) 样品台（包含载物架，为可更换配件）；

(5) 准直器；

(6) 滤光片；

(7) 高压源统；

(8) 样品腔 190mm*190mm×44mm ；

(9）空泵/SMC空磁阀/空压力表等

2. 软件X荧光光谱仪成份分析软件V6.0

3. 计算机一台品牌想

4. 打印机一台

注设备如需要配稳压器，需另计。

（二）功能、 分析精度及稳定性

铜合金(铜矿及铜精粉)成份分析;

同时可扩展分析铝合金(高铝熟料及铝土矿)，铁合金(铁矿石及铁精粉)，铅锡合金(铅锌矿及锰、铬矿)等其他合金，以及石灰石、白云石、硅酸盐、萤石等各种矿石。需要时需做必要的技术交流。

暂时不能分析元素H, He, Li, Be, B,C, N, O；

分析精度及稳定性

1） Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, Ti, W, Au, Ag, Sn等重金属含量的检测限达20～30ppm，对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准

A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取差值小于0.1～0.2%

B. 检测含量在0.5～5%的元素稳定的测试读取差值达0.05%～0.1%

C. 检测含量在0.1～0.5%的元素稳定的测试读取差值达0.01～0.03%

D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取变化率10～15%

2） Mg, Al, P, S, Si, As等金属成份含量的检测限达50ppm，对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准

A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取差值达0.1% ～0.2%

B. 检测含量在0.5～5%的元素稳定的测试读取差值达0.05%～0.1%

C. 检测含量在0.1～0.5%的元素稳定的测试读取差值达0.01～0.03%

D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取变化率达10～15%

3）. 不锈钢牌号验证；

4）. 可以检测分析样品状态液体，固体，粉末。

四、产品优势及软件说明

（一）. 产品优势

1． 可带镀层检测，一机多用省投资

2． 可检测固体、液体、粉末状态材料

3． 能检测分析多达60多种元素，一次检测可显示25种元素针对铜、铁、锌、不锈钢等任意基体做成分分析

4． 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低

5． 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析

6． 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（40-120秒）

7． 可针对户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件

8． 软件升级

9． 众多，媲美国外发达国家之同类设备

10．无损检测，一次性购买标样可使用

11．使用安心无忧，售后务响应时间24H以内，提供全位保姆务

（二）软件说明

1．仪器工作原理说明

2. 软件工作架构图

YZX1000型号光谱仪采用了目前国际上的软件算法，基本参数法（FP）。善时公司经过近10年的开发和完善，使软件已经具备了完善的使用内容外，还具备强大的教学和科研开发功能。

下面是关于光谱仪和软件的简单介绍

YZX-1000型号光谱仪软件算法的主要处理法

1) Smoothing谱线光滑处理

2) EscapePeak Removal 逃逸峰去除

3) Sum PeakRemoval 叠加峰去除

4) BackgroundRemoval 背景勾出

5) BlankRemoval 空峰位去除

6) IntensityExtraction 强度提取

7) PeakIntegration 图谱整合

8) PeakOverlap Factor Method 波峰叠加因素法

9) GaussianDeconvolution 高斯反卷积处理

10) ReferenceDeconvolution 基准反卷积处理

软件开发的过程中我们参考了如下文献（FP References）

(a) “Principles and Practice of X-raySpectrometric Analysis,” 2nd Edition, by E.P. Bertin,Plenum Press, New York, NY (1975).

(b) “Principles of uantitative X-RayFluorescence Analysis,” by R. Tertian and F. Claisse,Heyden & Son Ltd., London, UK (1982).

(c) “Handbook of X-Ray SpectrometryMethods and Techniques,” eds. R.E. van Grieken and A.A.Markowicz, Marcel Dekker, Inc., New York (1993).

(d) “An Analytical Algorithm for Calculation of Spectral Distributions ofX-Ray Tubes for uantitative X-Ray Fluorescence Analysis,” P.A. Pella, L. Feng and J.A. Small, X-Ray Spectrometry 14 (3),125-135 (1985).

(e) “Addition of M- and L-Series Lines to NIST Algorithm for Calculationof X-Ray Tube Output Spectral Distributions,” P.A.Pella, L. Feng and J.A. Small, X-Ray Spectrometry 20, 109-110 (1991).

(f) “uantification of Continuous and Characteristic Tube Spectra forFundamental Parameter Analysis,” H. Ebel, M.F. Ebel, J.Wernisch, Ch. Poehn and H. Wiederschwinger, X-Ray Spectrometry 18, 89-100(1989).

(g) “An Algorithm for the Description of White and Characteristic TubeSpectra (11 ≤ Z ≤ 83, 10keV ≤ E0 ≤ 50keV),” H.Ebel, H. Wiederschwinger and J. Wernisch, Advances in X-Ray Analysis, 35, 721-726(1992).

(h) “Spectra of X-Ray Tubes with Transmission Anodes for FundamentalParameter Analysis,” H. Ebel, M.F. Ebel, Ch. Poehn andB. Schoβmann, Advances in X-Ray Analysis, 35, 721-726(1992).

(i) “Comparison of Various Descriptions of X-Ray Tube Spectra,” B. Schoβmann, H. Wiederschwinger, H. Ebelａnd J. Wernisch, Advances in X-Ray Analysis, 39, 127-135 (1992).

(j) “Relative Intensities of K, L and M Shell X-ray Lines,” T.P. Schreiber & A.M. Wims, X-Ray Spectrometry 11(2), 42(1982).

(k) “Calculation of X-ray Fluorescence Cross Sections for K and L Shells,” M.O. Krause, E.Ricci, C.J. Sparks and C.W. Nestor, Adv. X-rayAnalysis, 21, 119 (1978).

(l) X-Ray Data Booklet, Center forX-ray Optics, ed. D. Vaughan, LBL, University of California, Berkeley, CA 94720(1986).

(m) “Revised Tables of Mass AttenuationCoefficients,” Corporation Scientifique Claisse Inc.,7, 1301 (1977).

(n) "Atomic Radiative andRadiationless Yields for K and L shells," M.O. Krause, J. Phys. Chem.Reference Data 8 (2), 307-327 (1979).

(o) “The Electron Microprobe,” eds. T.D. McKinley, K.F.J. Heinrich and D.B. Wittry, Wiley, NewYork (1966).

(p) “Compilation of X-Ray Cross Sections,” UCRL-50174 Sec II, Rev. 1, Lawrence Radiation Lab., University of California,Livermore, CA (1969).

(q) “X-ray Interactions Photoabsorption, Scattering, Transmission, andReflection at E = 50-30,000 eV, Z = 1-92,” B.L. Henke,E.M. Gullikson and J.C. Davis, Atomic Data and Nuclear Tables, 54, 181-342(1993).

(r) “Reevaluation of X-Ray Atomic Energy Levels,” J.A. Bearden and A.F. Burr, Rev. Mod. Phys., 39 (1), 125-142 (1967).

(s) “Fluorescence Yields, a4;k (12 ≤ Z ≤ 42) and a4;l3 (38 ≤ Z ≤ 79), from a Comparison ofLiterature and Experiments (SEM),” W. Hanke, J.Wernisch and C. Pohn, X-Ray Spectrometry 14 (1),43 (1985).

(t) “Least-Squares Fits of Fundamental Parameters for uantitative X-RayAnalysis as a Function of Z (11 ≤ Z ≤ 83) and E (1 ≤ E ≤ 50 keV),” C. Poehn, J. Wernisch and W. Hanke, X-RaySpectrometry 14 (3),120 (1985).

(u) “Calculation of X-Ray Fluorescence Intensities from Bulk andMultilayer Samples,” D.K.G. de Boer, X-Ray Spectrometry19, 145-154 (1990).

(v) “Theoretical Formulas for Film Thickness Measurement by Means ofFluorescence X-Rays,” T. Shiraiwa and N. Fujino, Adv.X-Ray Analysis, 12, 446 (1969).

(w) “X-Ray Fluorescence Analysis of Multiple-Layer Films,” M. Mantler, Analytica Chimica Acta, 188, 25-35 (1986).

(x) “General Approach for uantitative Energy Dispersive X-rayFluorescence Analysis Based on Fundamental Parameters,” F. He and P.J. Van Espen, Anal. Chem., 63, 2237-2244 (1991).

(y) “uantitative X-Ray Fluorescence Analysis of Single- andMulti-Layer Thin Films,” Thin Solid

Films 157, 283 (1988).

(z) “Fundamental-Parameter Method for uantitative Elemental Analysiswith Monochromatic X-Ray Sources,” presented at 25thAnnual Denver X-ray Conference, Denver, Colorado (1976).

3．软件界面

1）图谱界面

图谱界面可以任意调整大小，便于在研发过程中盲样分析时对各种元素的寻找。

参数设定界面

包含了尽量多的参数设定窗口，可以便使用员，尤其是研发员对软件和分析结果状态的了解。

4. 稳定性分析数据

五、产品保修及售后务

1. 协助做好安装场、环境的准备工作、指导并参与设备的安装、测试、诊断及各项工作。

2. 对户操作员进行培训。

3. 安装、调试、验收、培训及技术务均为免费在用户现场对操作员进行培训。

4. 整机保修一年，终身维修,保修期从我行验收合格后并正投入使用之日起计算。

5. 免费提供软件升级

6. 保修期内，提供全天 24小时（包含节假日）技术支持及现场维护务。在接到设备故障报修后，提供远程故障解决案（1小时内）, 如有需要，24小时内派上门维修和排除故障。

六、主要户名单

以下仅为部分户参考名单