XP-梅特勒XP微量天平-驭锘实业（上海）有限公司手机版

产品简介

梅特勒XP微量天平
XP26/XP56
1.采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求
2.天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
3.GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
4.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
5.*可拆卸，清晰的内部和外部玻璃防风罩设计

详细介绍

梅特勒XP微量天平

XP26/XP56

1. 采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求

2. 天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确

3. GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作

4. 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

5. *可拆卸，清晰的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁

6. 丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量

型号	XP26	XP26DR	XP56	XP56DR
zui大称量值（g）	22	5.1/22	52	11/52
可读性（mg）	0.001	0.002/0.01	0.001	0.002/0.01
重复性（sd）（mg）	0.0025	0.002/0.008	0.006	0.002/0.014
线性误差（mg）	0.006	0.01	0.02	0.03
典型稳定时间（s）	3.5	3.5/2.5	3.5	3.5/2.5
秤盘尺寸（mm）	40*40	40*40	40*40	40*40

DU=双量程；sd=标准偏差