东莞市豪恩检测仪器有限公司(武汉分公司)

仪表网中级12

收藏

电路板半导体高低温冲击测试箱

时间:2021-11-11      阅读:619

冷热冲击试验箱

用途

用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

满足标准

GB 10589-89GB 10592-89GB 11158-89GB/T 5170.2-1996GB 2423.1-89GB 2423.2-89GB 2424.1-89GJB 150.5-86QC/T 17-92IEA 364-32IEC 68-2-14等。

冷热冲击试验箱1.jpg


主要技术参数

容量

内箱尺寸(cm

外形尺寸(cm

型号

温度范围

总功率

降温时间

升温时间

 

27(两箱)

 

30×30×30

 

120×180×110

HE-LR-27S

-40+150

18KW

-55

60min

 

150

 

30min

HE-LR-27W

-55+150

19KW

-65

70min

HE-LR-27L

-65+150

20KW

-75

80min

 

50

 

36×35×40

 

156×157×144

HE-LR-50S

-40+150

20KW

-55

70min

 

150

 

30min

HE-LR-50W

-55+150

21KW

-65

80min

HE-LR-50L

-65+150

22KW

-75

90min

 

80

 

50×40×40

 

170×180×144

HE-LR-80S

-40+150

21KW

-55

70min

 

150

 

40min

HE-LR-80W

-55+150

22KW

-65

80min

HE-LR-80L

-65+150

23KW

-75

90min

 

100

 

60×40×40

 

180×180×144

HE-LR-100S

-40+150

22KW

-55

80min

 

150

 

40min

HE-LR-100W

-55+150

23KW

-65

90min

HE-LR-100L

-65+150

25KW

-75

100min

150

 

60×50×50

 

180×190×154

HE-LR-150S

-40+150

28KW

-55

80min

 

150

 

40min

HE-LR-150W

-55+150

35KW

-65

100min

HE-LR-150L

-65+150

45KW

-75

100min

250

 

70×50×50

 

190×200×164

HE-LR-250S

-40+150

30KW

-55

80min

 

150

 

40min

HE-LR-250W

-55+150

40KW

-65

110min

HE-LR-250L

-65+150

50KW

-75

120min

高温槽温度范围

+60~+200

温度波动度

±2.0

温度转换时间

10S

温度稳定时间

35min(常温~低温度,常温~最高温度)

内箱材质

SUS304镜面不锈钢

外箱材质

SUS201纱面不锈钢或电解钢板喷塑处理

冷冻系统

冷冻机组为复叠式,压缩机(进口法国泰康或进口德国比泽尔),R404AR23环保冷媒

冷却方式

水冷或风冷(可选择)

控制器系统

可程控彩色触摸式温度控制器(TEIP880SOYO8226

标配

测试1个,样品架2

使用电源

AC 三相 五线 380V 50HZ

保护装置

无熔丝开关,压缩机过载保护,超温保护,风机过载保护,保险丝

联机软件

R232485USB接口

 


上一篇: 温度快速变化测试箱(升降温速率10℃/min) 下一篇: 纸板MIT耐折强度测试机
提示

请选择您要拨打的电话: