测试电压测量频率:1MHz~3GHz
测量时间:0.5ms(模拟测量时间)
测量值偏差:0.07%(用3GHz测量线圈1nH时)
基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
品牌
代理商厂商性质
北京市所在地
基本参数 | (精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年) |
测量模式 | LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量 |
测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
测量频率 | 1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz) |
测量信号电平 | 功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏 |
测量时间 | 0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
附件 | 测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1 |
基本参数 | (精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年) |
测量模式 | LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量 |
测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
测量频率 | 1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz) |
测量信号电平 | 功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏 |
测量时间 | 0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
附件 | 测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1 |
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测试电压测量频率:1MHz~3GHz
测量时间:0.5ms(模拟测量时间)
测量值偏差:0.07%(用3GHz测量线圈1nH时)
基本精度:±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小,测试头尺寸仅手掌大小
丰富的接触检查(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
分析模式下可以边扫描测量频率、测量信号电平边进行测量
高速·稳定测量 重复精度与模拟测量时间 (各测量频率的参考数据) 在测量中实现高速及高稳定性兼顾。 缩短工时,提高产能。
高速·稳定测量 重复精度与模拟测量时间 (各测量频率的参考数据) 在测量中实现高速及高稳定性兼顾。 缩短工时,提高产能。
基本参数 | (精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年) |
测量模式 | LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量 |
测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
测量频率 | 1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz) |
测量信号电平 | 功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏 |
测量时间 | 0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
附件 | 测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1 |
基本参数 | (精度保证时间1年,调整后精度保证时间1年) |
测量模式 | LCR (LCR测量),分析仪 (扫频测量), 连续测量 |
测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
测量频率 | 1 MHz〜3 GHz (设置分辨率100 kHz) |
测量信号电平 | 功率 (dBm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT 8.4英寸, 触摸屏 |
测量时间 | 0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
附件 | 测试头×1, 连接线×1, 使用说明书×1, CD-R (通讯说明书) ×1, 电源线×1 |