日本TECLOCK得乐指针测厚仪|SM-1201得乐测厚规-青岛精准科仪商贸有限公司手机版

详细介绍

日本TECLOCK得乐指针测厚仪|SM-1201得乐测厚规

我公司为日本得乐TECLOCK量具大陆一级代理商，

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TECLOCK（日本得乐） SM-1201

得乐测厚规适用范围：

用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。

TECLOCK得乐测厚仪原理：

在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

得乐SM-1201测厚规技术参数：

1. 指式方式：指针式

2. 测量范围：0-10mm

3. zui小读数：0.001mm

4. 测量深度：120mm

5. 体积大小：（W*D*H）87*23*105mm

6. 重量：200g

以下型号根据客户具体情况选择

SM-1201	0.001	10	1.5（150）	有	φ8.5平（超硬）	φ8.5平（超硬）
SM-1201LS					Sφ3（超硬）	Sφ8.5平（超硬）
SM-1201LW					Sφ3（超硬）	Sφ3平（超硬）