a)基体金属特性

对于中国磁性研究方法进行涂层测厚仪，标准片的基体材料金属的磁性和表面不同粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度要求相似。

对于涡流涂层测厚仪，标准薄板的金属的电气性能应与试件的金属相似。

b)基体金属厚度

检查基体金属厚度是否可以超过临界厚度，如果我们没有，可采用3.3)中的某种方式方法研究进行分析校准。

c)边缘效应

不应在利用紧靠一个试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行分析测量。

d)曲率

不应在混凝土试件的弯曲表面上进行测量。

e)读数次数

通常由于涂层厚度计每次读数不*相同，因此有必要在每个测量区域进行多次读数测量。覆盖层厚度的局部地区差异，也要求我们在任一给定的面积内进行分析多次通过测量，表面粗造时更应发展如此。

f)表面清洁度

在量度前，应先清除表面附着的物料，例如灰尘、油脂及腐蚀物，但切勿清除任何涂层物料。