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HYCLJ-BII（J）全半导体激光尘埃粒子计数器
c仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。
该系列产品已被广泛应用于微电子、医院、制药、科研、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范的*仪器。该系列仪器性能设计*、质量稳定可靠，深受用户欢迎。经国内贸易部有关部门的市场调查和*，先后获《质量信得过产品》、《消费者信得过产品》、《质量监督合格产品》等荣誉证书。
主要功能和技术参数:
| 型号 | HYCLJ-BⅡ（J） |
| 采样流量 | 2.83L/min |
| 检测范围 | 100级～30万级 |
| 自净时间 | ≤10min |
| 连续工作时间 | 8h |
| 打印功能 | 内置打印机 |
| 工作环境 | 温度10~35℃，相对湿度≤75% |
| 电源 | 220V±10%，50Hz±2Hz |
| 粒径通道 | 0.3，0.5，1，3，5，10（um）六通道 |
| 采样周期 | 1min~10min（10档） |
| 时钟 | 有时钟 |
| 公英制转换 | 有公英制转换 |
| 判断净化级别 | 按95%置信度判断净化级别 |
| 电源及寿命 | 全半导体激光>30000h |
| 功耗 | 35W |
| 外形尺寸 | 22.5X10X25（cm） |
| 重量 | 4Kg |
