IC半导体冷热冲击试验仪冷冻及风路循环系统 
　　☆集成电路板高低温试验箱制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。 
　　☆风路循环出风回风设计，风压风速均符合测试标准，并可使开门瞬间温度回稳时间快。 
　　☆升温、降温、系统*独立可提高效率，降低测试成本，增长寿命，减低故障率。 
　　☆冷冻系统采用单元或二元式低温回路系统设计。 
　　☆采用多翼式送风机强力送风循环，避免任何死角，可使测试区域内温度分布均匀。 
IC半导体冷热冲击试验仪 www.uvlhsyx.com 箱体结构特点 
　　☆大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。 
　　☆箱体左侧配直径50mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。 
　　☆集成电路板高低温试验箱箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。 
　　☆箱体内胆采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，箱体外胆采用A3钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。 
IC半导体冷热冲击试验仪评审结论 
　　☆对设计是否满足本设计阶段要求，能否转人下一设计（或生产）阶段作出结论; 
　　☆对设计工作及水平作一次技术上的评价; 
　　☆根据FMECA的情况，对存在的主要失效模式是否采取了有效措施提出意见等。后填写评审鉴定书。 
　　设计评审过程中形成的资料是评价设计质量的重要凭证。要认真填写,并整理归档。

 
IC半导体冷热冲击试验仪设计质量分析报告内容至少包括: 
　　☆设计依据、目标和达到的水平; 
　　☆设计主要特点和改进; 
　　☆本阶段可靠性分析、试验结果; 
　　☆对主要问题和薄弱环节的分析及对策; 
　　☆提交设计审查的设计、试验资料目录; 
　　☆设计目标及核实达到的水平; 
IC半导体冷热冲击试验仪控制器 
　　☆资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。 
　　☆具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为精确稳定。 
　　☆集成电路板高低温试验箱温度控制采用全进口触摸按键式仪表，操作设定简单。(日本RKC) 
　　☆可选配打印机。 
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