半导体器件高低温冲击试验房产品用途:  （.asli163.com）

冷热冲击箱适用于电子、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验产品于热涨冷缩产生的物理伤害或化学变化，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。

半导体器件高低温冲击试验房规格与技术参数：

工作室尺寸（宽*高*深cm）：40*50*40 50*60*50 50*75*60 60*85*80 100*100*80 100*100*100 

调节方式：平衡调温调湿方式 

温度范围：0℃；-20℃；-40℃；-60℃；-70℃~150℃ 

湿度范围：20～98％R.H 

波动度：≤±0.5℃； 

均匀度：±2℃ 

湿度偏差：±3%R.H 

湿度波动：±2.5%R.H 

精度范围：设定、显示精度：温度±0.1℃、湿度±1％R.H 

升温速率：平均1-3℃/min 

降温速率：平均0.7-1℃/min 

半导体器件高低温冲击试验房结构特点: （） 

1、产品外形美观、结构合理、工艺、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。  

2、冷热冲击箱分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采用*的断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物*静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。  

3、采用的计测装置,控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单,学习容易,稳定可靠。中、英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟,循环周期1~999次可设定,可实现制冷机自动运转，大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。  

4、箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。  

5、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲、冷热冲击之功能，具备高低温试验机的功能。  

6、具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，*有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。  

7、科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角。  

8、完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的*可靠性。  

9、可设定循环次数及除霜次数自动（手动）除，出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。  

10、冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美*压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R507，R23。  

11、*安全保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

主要相关关键字：半导体器件高低温冲击试验房规格 半导体器件高低温冲击试验房参数 半导体器件高低温冲击试验房图片 半导体器件高低温冲击试验房生产厂家