pct老化箱是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

　　LED具有低电压、低能耗、长寿命、高可靠性、易维护等优点,已成为照明行业的主流。虽然LED光源已逐步取代其他光源成为照明行业的主流,但其寿命及其可靠性仍有待提高,这已成为现阶段的研究重点。

　　LED光源可靠性通常采取pct老化箱进行一个温度加速老化试验,在LED样品试验中随着老化时间的增长,会产生光衰退,而产生光衰退的原因有荧光粉、硅胶以及芯片的衰减。