ASLI半导体高低温测试设备（熊s）全部功能采用计算机控制，系自主开发的软件，有良好的操作界面，使用户的操作和监测都更加简单和直观，保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下，  可以临时更改此程序段的数值，可以在屏幕上设置时间的参数，使制冷、加热、提蓝传送切换，按设定值自动进行。

    冷箱、热箱独立控制，箱门互相独立，扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。产品保温效果可以得到充分保证。试验箱门与循环风机，提蓝传动等互锁，保护操作者的安全，一旦打开箱门，循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。在箱有标准引线孔管，方便用户向箱内引入传感器线，检测电缆等类型引线。  

半导体高低温测试设备性能指标： .lrcjy。。

1、温度范围:A:-20℃～200℃B:-40℃～200℃C:-60℃～200℃  

2、温度波动:高温室及低温室均≤±2℃  

3、温度波动:≤±0、5℃(恒温时)  

4、样品承重:(WDCJ-162)20KG;(WDCJ-340)30KG;(WDCJ-500)50KG;(WDCJ-010)60KG  

5、低温区、高温区转换时间小于等于15秒。  

6、温度恢复时间小于等于5分钟。  

半导体高低温测试设备运行控制系统： .lrcjsyx。。

1、控制器:采用进口LED数显(P、I、D+S、S、R、)微电脑集成控制器  

2、精度范围:设定精度：温度±0、1℃，指示精度：温度±0、1℃，解析度：±0、1℃  

3、制冷系统:进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组，原装法国“泰康”全封闭风冷复迭压缩制冷方式  

4、循环系统:耐温低噪音空调型电机，多叶式离心风轮  

5、温度转换时间:从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S  

6、温度恢复时间:≤5min(与温度恢复条件有关，既冷却水温、温差、恒温时间、样品重量有关)温度冲击方法:垂直两箱法/垂直三箱法(两箱式冷热冲击试验箱/三箱式冷热冲击试验箱)

半导体高低温测试设备执行与满足标准： 

1、GB/T10589-1989低温试验箱技术条件；  

2、GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件；  

3、GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件；  

4、GB/T2423、50-1999恒定湿热试验Ca；  

5、GB/T2423、4-93（MIL-STD810）方法507、2程序3；  

6、GB/T2423、4-2008交变湿热循环试验；  

7、GB/T2423、34-2005温湿度组合循环试验。

半导体高低温测试设备产品用途： 

    半导体高低温测试设备又名高低温循环试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温循环试验箱是目前电子，仪器，仪表，化工，塑胶，电池，LED等行业，使用的较为广泛的一款高低温冲击设备。选择TS冷热冲击试验箱，就选艾思荔科技。