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解说PCT加速老化试验箱的技术参数与箱体结构

时间:2015-07-28      阅读:1004

 PCT加速老化试验箱又名PCT试验箱,是用于测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。


  PCT加速老化试验箱的技术参数

  1.温度范围:室温+10℃~200℃;或室温+10℃~300℃;

  2.温度波动度:±1℃(空载时);

  3.升温速率:3~5℃/min;

  4.试验定时范围:1~9999(s、m、h)可调;

  5.换气时间:1~99(s、m、h)可调;

  6.换气量:3~10次/小时、50~100次/小时、100~200次/小时(可调根据客户试验要求);

  7.换气方法:1、自然换气:通过箱体上下换气孔自然换气;2、强行换气:风机强行进风,通过调节流量计的流量自动换气;

  8.试样转盘及转速;10r/min两层不锈钢转架;

  9.循环方式:风扇强制循环方式;10..电源:380V三相五线制;

  PCT加速老化试验箱的箱体结构

  1.外壳采用A3钢板数控机床加工成型,内胆为不锈钢板。保温材质采0用高密度玻璃纤维棉,保温层厚度150mm。

  2.搅拌系统:采用大功率长轴风扇电机,耐高温的不锈钢轴及叶轮,以达到强度对流垂直扩散循环,设备的换气系统为自动控制,换气量可

  调。

  3.样品架采用减速电机驱动,可以旋转。

  艾思荔的服务理念:

  1、坚持诚信、负责、热情的做人和做企业的基本原则,说到的一定做到;

  2、走创新技术之路,为客户提供质量过得硬,性价比非常高的产品;

  3、公司立志“为客户创造更大的生产力”实现与客户共双赢。

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