产品简介
电缆动态老化试验厂，电路板高压蒸煮仪介绍适用于产业界电子电器、LED照明、光电、LCD、、航天、塑料、橡胶、五金、化工等行业，电子零件、汽车零件、笔记本等产品模拟气候环境测试.及其他相关产品零部件在高温、低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，考核其各项性能指标。
详细介绍
电缆动态老化试验厂，电路板高压蒸煮仪介绍详细信息：
用途介绍：冷热交变冲击试验机为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。（需把握在失败机制依然未受影响的条件下）RAMP试验条件标示为：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环（可控制斜率的温度冲击）。
电缆动态老化试验厂，电路板高压蒸煮仪精准参数介绍：
Models TS-27 TS-80 TS-150 TS-225
Inside Dimensions
W x D x H cm 40X35X35 50X40X40 60X50X50 70X60X60
Outside Dimensions
W x D x H cm 140X165X165 150X200X175 160X225X185 170X260X193
Precool/Preheat Range -00.00℃～-75.00℃/ 60.00℃～ 200.00℃
Shocking Range -10.00℃～-65.00℃/ 60.00℃～ 150.00℃
Time Range 0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
Resolution 0.01℃/min
Temperature Uniformity ±3.00℃以内（under℃3.00℃）
Range of temperature variation（℃/min） 5℃～ 30℃/min（ 40℃）
（Three boxes）range of box brushing -65℃～ 150℃ ±2.00℃以内（under ±2.00℃）
（Two boxes）range of box brushing -55℃～ 150℃ ±2.00℃以内（under ±2.00℃）
电缆动态老化试验厂，电路板高压蒸煮仪满足标准介绍：
1.GB/T 10589-1989低温试验箱技术条件
2.GB/T 11158-1989 高温试验箱技术条件
3.GB/T 10592-1989 高低温试验箱技术条件
4.GB/T 2423.1-2001 试验A：低温试验方法
5.GB/T 2423.2-2001试验B：高温试验方法
6.GB/T 2423.22-2002试验N:温度变化试验方法
7.GJB150.3-1986高温试验
8.GJB150.4-1986低温试验
满足无铅制程、无铅焊锡、锡须（晶须）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
电缆动态老化试验厂，电路板高压蒸煮仪技术特点介绍：
◆ 可执行AMP（等均温变）、三箱冲击（3H）、两箱冲击（2H）、高温储存、低温储存功能
◆ 等均温速率可设定范围5℃～30℃（40℃）
◆ 满足无铅制程、无铅焊锡、锡须（晶须）、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
◆ 采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行
◆ 除霜周期三天除霜一次，每次只需1小时完成
◆ 通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能
◆ 感测器放置测试区出（回）风口符合实验有效性
◆ 机台多处报警监测，配置无线远程报警功能
