高加速寿命试验设备应用范围：

　　高加速寿命试验设备主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　高加速寿命试验设备设备特点：

　　1. 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象.

　　2. 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击.

　　3. 非饱和高压加速老化试验机水管采用铜管+喇叭口，精密设计,气密性良好,耗水量少。

　　4. 型packing ,材质：耐高温夕胶发泡成型，内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式*不同,可延长packing寿命.

　　6. 实验开始前可将原来内箱之空气抽出，并吸入过滤器,过滤之新空气packing<1micom.以确保箱内之纯净度.

　　7. 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示.

　　8. 非饱和高压加速老化试验机机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态.

　　9. 水箱采用16L大容量水箱，置于箱体底部，采用自动补水功能;试验不终断 ; 试验结束时设备会自动泻除压力.

　　高加速寿命试验设备满足标准：

　　1.IEC60068-2-66 2.JESD22-A102-B 3.EIAJED4701 4.EIA/JESD22

　　高加速寿命试验设备规格参数：

　　型号 PCT-250 PCT-350 PCT-450 PCT-550 PCT-250 M PCT-350 M

　　控制器 微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器

　　分辨率 温度：0.1压力：指针式0.1

　　控制稳定度 温度：±0.5℃，湿度：

　　内箱材质 SUS316#不锈钢

　　外箱材质 钢板烤漆或不锈钢(依客户选择)

　　尺寸(cm) 内箱 Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45

　　外箱 W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135 W86×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125

　　温度范围 110℃～132℃ 110℃～147℃

　　湿度范围 RH饱和蒸气

　　压力范围 表压力+0.2～2.0kg/cm2 表压力+0.2～3.5kg/cm2

　　加压时间 大约45分钟 大约55分钟

　　循环方式 水蒸气自然对流循环

　　安全保护 感温器检测保护，阶段高温保护，阶段高压保护，箱门压力限制，水箱缺水报警断电，温度加热器保护，湿度加湿器保护，二阶段高温保护，二阶段高压保护，三阶段紧急泄压保护，，手动泄压保护，自动泄压等。

　　【艾思荔仪器】坚持质量重于生命，狠抓质量，严把质量关，力求给客户无瑕的产品，让客户用着放心