HAST高压加速老化试验箱用途：

　　半导体的PCT测试:主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路..等相关问题。

　　HAST高压加速老化试验箱的详细信息:

　　一.选型示意：

　　◇R-HAST–350-2

　　◇R：艾思荔标志

　　◇PCT：高压加速

　　◇350:内容积￠×D)

　　◇2:压力范围

　　◇2:+0.5—2kg/cm2

　　◇3:+0.5—3kg/cm2

　　二.产品规格(mm)：

　　◇型号:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000

　　◇型号:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100

　　◇型号:HAST-400工作室尺寸:Φ400×D600外形尺寸D×W×H800×750×1150

　　◇型号:HAST-500工作室尺寸:Φ500×D700外形尺寸D×W×H900×850×1250

　　三.产品简单介绍：

　　◇高压锅,PCT高压加速寿命试验机,PCT高压蒸煮仪,高压高湿蒸煮仪,HAST非饱和型高压加速试验机,加速老化

　　◇寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,

　　◇缩短产品或系统的寿命试验时间。

　　◆技术优势：

　　◇采用全自动补充水位之功能,试验*中断.

　　◇试验过程的温度、湿度、压力,是真正读取相关传感器的读值来显示的,而不是通过温湿度的饱和蒸汽压表计算出来的,能够真正掌握实际的试验过程。

　　◇干燥设计,试验终止采用电热干燥设计确保测试区(待测品)的干燥,确保稳定性。

　　◇精准的压力/温度对照显示,*符合温湿度压力对照表要求。

　　艾思荔的主营产品有：HAST高压加速老化试验箱,HAST高度加速寿命试验机,可程式恒温恒湿试验箱、高低温热湿试验箱、步入式恒温恒湿试验室、高低温试验箱、快速温变高低温试验机、冷热冲击试验箱、温度冲击箱、盐雾试验机、盐干湿复合盐雾试验机、老化试验箱、高温干燥箱、高温烤箱、UV紫外线耐气候试验机、真空烤箱等可靠性环境试验设备以及制程设备,有数十个系列近百种产品。