高低温冲击试验箱（www.kcshwhs.com）,除了可仿真产品在一般气候环境温湿组合条件下（高低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验）..等，去检测产品本身的适应能力与特性是否改变，以及针对产品在（低温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等）环境下是否会发生龟裂、破损，另外在低湿环境中的空气静电量是一般环境的30倍以上，据统计，半导体破坏率：59%是由静电所引起的。需符合性规范之要求（IEC、JIS、GB、MIL…）以达到间量测程序*性（含测试步骤、条件、方法） 

高低温冲击试验箱容积和尺寸： 
1、门尺寸（mm）：H2200×W1100（*门） 

2、性能： 
1、测试环境条件： 
环境温度：5～35℃ 
相对湿度≤85%RH 
2、测试方法： 
a温度范围：-20℃～+80℃ 
b：30%～98%R·H 
c温度均匀度：±2℃波动度：±0.5℃ 
d湿度均匀度：±%R·H波动度：±2%R·H 
e升温时间：-20℃～+85℃，≤60分钟、降温时间：25℃～-20℃〉≤100分钟。 

高低温冲击试验箱设备特点 
◆湿度效应可以达到15℃/10%RH效能,除湿速度快 
◆同容积在承受较大存放区域和负载发热量 
◆采用新型制冷控制技术实现低温节能运行 
◆防止静电降耗能力强,达到业中性能状态 
◆通信配置RS232接口或RS485接口，可供选择 
◆安全的水路系统和再生用水环循系统。

高低温冲击试验箱满足试验标准： 
GB/T2423.2-2001试验B：高温试验方法 
GB/T2423.3-2001试验Ca：恒定湿热试验方法 
GB/T2423.4-2001试验Db：交变湿热试验方法