步入式冷热冲击试验箱又名高低温冲击试验箱、高低温冷热冲击试验箱、高低温冷热冲击试验箱、两箱移动高低温冷热冲击试验箱、三槽高低温冷热冲击试验箱称为冷热冲击机，用于电子电器零组件、自动化零部件通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具. 

步入式冷热冲击试验箱规格：  

內尺寸：50×60×55㎝（W*D*H）╳2內容积：165L*2台  

外尺寸：115×158×184㎝（W*D*H）  

温度范围：-70℃～+150℃（气冷式）  

温度稳定度：±0.2℃  

湿度稳定度：±2%   

湿度范围：10%～98%RH  

降温速率：20℃～-70℃/85min（空载下）  

升温速率：20℃～+150℃/45min（空载下）  

发热负载：250W.（40℃,90%RH）  

步入式冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下所能忍受的程度,藉以在短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害.适用的对象包括金属,塑料,橡胶,电子....等材料,可作为其产品改进的依据或参考  

   为了仿真不同电子构件，在实际使用环境中遭遇的温度条件，改变环境温差范围及急促升降温度改变，可以提供更为严格测试环境，缩短测试时间，降低测试费用，但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响，产生非使用状态的破坏试验。（需把握在失败机制依然未受影响的条件下）RAMP试验条件标示为：TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是温度循环（可控制斜率的温度冲击）。  

步入式冷热冲击试验箱满足标准：  

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法；  

2、GB/T2423.2-2001高温试验方法；  

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N；  

4、国GJB150.3-86；  

10、GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则  

11、GB/T2423.22-2002温度变化  

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则,  

5、国GJB150.4-86；  

6、国GJB150.5-86；  

7、GJB150.5-86温度冲击试验；  

8、GJB360.7-87温度冲击试验；  

9、GJB367.2-87405温度冲击试验。  

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式  

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式  

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化  

13、EIA364-32热冲击（温度循环）