pct老化试验机技术性能指标  135 3237 0059张S

1.温度范围:＋105℃～＋132℃。  

2.温度波动度:±0.5℃。  

3.温度均匀度:±1.5℃。  

4.湿度范围:R.H饱和蒸气。  

5.湿度波动度:±1.5%R.H。  

6.湿度均匀度:±3.0%R.H。  

7.压力范围：  

u相对压力：+0～4kg/cm2。  

u锅内压力：+0～2.8kg/cm2。  

u压力：1.0kg/cm2～3.0kg/cm2。  

u安全压力容量：4kg/cm2＝1个大气压＋3kg/cm2。  

8.循环方式:水蒸气自然对流循环。  

9.测时间设置：0～999Hr。  

10.加压时间：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2约45分钟。  

12.升温时间:由100℃升至＋132℃约10分钟非线性空载。  

13.温度变化速率为空气温度平均变化速率,而非产品温度变化速率。  

14.试验内箱体积供选择：  

pct老化试验机执行与满足标准  

1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件；  

2.GB2423.3-93（IEC68-2-3）恒定湿热试验；  

3.MIL-STD810D方法502.2；  

4.GJB150.9-8温湿试验；  

5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验；  

pct老化试验机用途：  

随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受*的试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了的压力蒸煮锅试验方法。方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(电工委员会)所标准化。注意事项：USPCT现在称为HAST(高度加速应力试验)。

ASLI典型客户：  

◆辽宁*◆华南理工大学◆宁波材料研究所◆上海涂料技术研究院◆德国TUV驻深圳实验室◆四川欧利普照明有限公司◆深圳比亚迪汽车有限公司◆LG电子(惠州)有限公司◆信利半导体(汕尾)有限公司◆广东赛翡蓝宝石科技有限公司◆中山有信汽车部件制造有限公司