GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪
GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪
GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪
GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪

DRK203GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪

参考价: 订货量:
50000 1

具体成交价以合同协议为准
2024-01-09 13:31:07
960
属性:
产地:国产;加工定制:是;适用领域:其他;
>
产品属性
产地
国产
加工定制
适用领域
其他
关闭
山东德瑞克仪器股份有限公司

山东德瑞克仪器股份有限公司

中级会员12
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

DRK203 GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪,设备参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》。

详细介绍

DRK203 GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪,设备参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》和ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》。

DRK203 GB/T6672-2001 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪,设备是用机械测量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器,但不是适用于压花的薄膜和薄片。设备外型美观,结构紧凑合理,操作省力,使用方便。主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试,还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试。

637732644222805691622.jpg


DRK203A 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪,产品参数:

测量范围:0~1mm

分度值:0.001mm

测头端部的力:

(1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N;

(2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N

637732654981659661556.jpg

DRK203B 薄膜测厚仪 塑料薄片厚度仪,产品参数:

测量范围:0~1mm

分度值:0.001mm

测头端部的力:

(1)上测头的测量面为¢6mm平面,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.5~1.0N;

(2)上测量面为(R15—R50)mm曲率半径,下测头为平面时,测头对试样施加的力为0.1~0.5N

注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。



上一篇:纸张测厚度仪|台式测厚仪|工作原理|技术特征 下一篇:薄膜测厚仪技术原理|GB/T6672标准|薄膜厚度测量仪|应用介绍
热线电话 在线询价
提示

请选择您要拨打的电话: