LAB-T3涂层测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
2026-03-11 12:53:25
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北京兰铂高科检测仪器有限公司

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产品简介

LAB-T3涂层测厚仪 产品简介: 凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量,如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。

详细介绍

LAB-T3涂层测厚仪

仪器特点

采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;

具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);

具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl);

设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);

可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;

具有存贮功能:可存贮500 个测量值;

具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;

可设置限界:对限界外的测量值能自动报警;

能实时显示电量;

操作过程有蜂鸣声提示,并可选择关闭蜂鸣器;

待机时间可调,超过待机时间自动关闭;

屏幕亮度可调;

屏幕的分辨率可调;

具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣器声进行错误提示;

设有两种关机模式:手动关机和自动关机。

具有温度补偿、高精度


仪器参数

测头类型 

F

N

工作原理

磁感应

涡流

测量范围μm)

01250

01250

铜上镀铬(040)

低限分辨力μm)

0.1

0.1

   示

零点校准μm)

±(3%H+1)

±(3%H+1.5)

二点校准μm)

±[(13)%H+1]

±[(13)%H+1.5]

zui小曲率半径(mm)

 1.5

3

zui小面积的直径(mm)

Φ7

Φ5

基体临界厚度(mm)

0.5

0.3


探头选用参数

基体          覆盖层

有机材料等非磁性覆盖层:漆料、涂漆、搪瓷、塑料和阳极化处理等

非磁性的有色金属覆盖层:铬、锌、铝、铜、锡、银等

如铁、钢等磁性金属

型测头

测量范围:0μm1250μm

型测头

测量范围:0μm1250μm

如铜、铝、黄铜、锌、锡等

有色金属

型测头

测量范围:0μm1250μm

型测头 仅用于铜上镀铬

测量范围:0μm40μm



 

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