• JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
• 扫描电子显微镜 (SEM) 不仅是开展科研工作所的工具，
• 对于需要品控的制造工厂也是的。 在这些场景中，
• 用户需要重复执行相同的观察操作，因此快速完成这些操作有助于提高工作效率。
• JSM-IT510 新增的“简单 SEM”功能，用户可将 SEM 观察所需的“手动重复操作交给它”，
• 从而更高效、更轻松地完成 SEM 观察。

• NEW 简单 SEM

  只需选择目标视野

  “简单 SEM”支持日常工作

2. 准备抽真空观察

*1 样品台导航系统（SNS）是选配件

*2 大区域样品台导航系统（SNSLS）是选配件

*3 样品室相机（CS）是选配件

3. 自动开始观察

真空完成后自动成像

2. 简单分析

最多点击3次即可开始EDS分析

多种高级选项

1. NEW 低真空混合二次电子探测器（LHSED）*

该新型探测器可以收集电子和光子信号，并提供具有高信噪比和增强形貌信息的图像

2. NEW 实时3D*

新多向分割BE探测器*获得的图像可以显示为实时3D图像。

即使样品具有细微的表面起伏，实时3D也可以直观的将其清晰的表现出来，并获取其深度信息。

3. 蒙太奇

蒙太奇功能可以自动获取多个小视野的图像并将这些图像拼接成一张更大视野的图像。

4. 显示信号深度

此功能实时显示被测样品的分析深度（近似数值），对元素分析非常有用。