X荧光光谱仪Thick800A能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型的厚度，精确度达到0.01μm，同时镀层分析能力多达5层。THICK 800采用上照式设计，通过三维移动和激光定位，可实现对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定。

Ｘ荧光光谱仪Thick800A的技术参数：

1.       金属镀层检出限：0.01μm

2.       同时镀层分析能力：5层

3.       元素分析范围：从钾（K）到铀（U）。

4.       多次测量重复性可达：0.01μm

5.       长期工作稳定性为：0.1μm（5μm左右单镀层样品）

6.       输入电压：220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）

7.       环境温度:15℃—30℃

8.       环境湿度：35%—70%

9.       样品腔面积: 517 mm×352mm×150mm

10.    外形尺寸：648mm×490mm×544mm

11.    重量：65Kg 

Ｘ荧光光谱仪Thick800A的应用领：

1.       镀层厚度测量

2.       镀层和电镀液含量测定

3.       电镀业

4.       首饰加工

Ｘ荧光光谱仪Thick800A的配置：

1.       正比计数盒探测器/电制冷Si-PIN探测器。

2.       稳定X光管。

3.       内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上。

4.       针对不同样品选配合适准直器和滤光片。

5.       二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

6.       双激光定位装置。

7.       开放式样品腔。

8.       玻璃屏蔽罩。

9.       信号检测电子电路。

10.    高低压电源。

11.    任意多个可选择的分析和识别模型。

12.    相互独立的基体效应校正模型。

13.    多变量非线性回收程序。

14.    智能镀层检测软件，与仪器硬件相得益彰。