X荧光光谱仪EDX8000的技术参数:

1.       分析精度: 0.05%

2.       分析含量范围：1PPM-99.99%

3.       测量元素：从硫至铀等75种元素

4.       测量对象：

粉末、固体、液体；

分析电镀溶液中金属离子浓度；

可分析10层以上的镀层；

5.       测试镀层至0.005um

6.       步进最小距离：0.01mm

7.       测量时间：60~300秒

8.       工作温度：15~30°C

9.       相对湿度：< 70%

10.    重量：30KG

11.    工作电压：AC 110/220V

X荧光光谱仪EDX8000的配置：

1.       单样品腔计

2.       算机、喷墨打印机

3.       硅针半导体探测器

4.       放大电路

5.       高低压电源

6.       X光管

7.       双

8.       50至100倍物体放大