电子光学系统的高质量成像

JSM-IT300 提供高画质图像，能满足您对 W-SEM 机型的期待，全新的镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有了显著的提高。

二次电子像

通过高真空二次电子像观察到的蝴蝶鳞粉。可以用更高的分辨率观察微观结构。

背散射电子像

通过在低加速电压下观察背散射电子成份像，能观察到每个碳化钨颗粒的通道衬度。

新的扫描系统使低加速电压下的图像质量更高

帧累积法能抑 制荷电效应，对非常容易充电的样品可以轻松地进行观察。

新的扫描方式能减轻样品的带电，不易受到样品漂移的影响，即使是容易充电的样品，高倍率下的图像质量也得到了显著的提高。

EDS 集成化 EDS 一触式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是集开发、制造和销售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在观察和分析过程中，轻触屏幕即可进行分析。

一触式分析

在 SEM 的操作界面上，只需轻触图标就可以执行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一体 化集成，提高了通量和易用性。

基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一触即成。

在 SEM 的 GUI 上，轻触屏幕即可执行基本的分析操作。