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Surfix PBN膜厚仪，Surfix PBN膜厚计
德国PHYNIX公司制造Surfix PBN内置探头非铁基基本型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
基本型,碳化钨超耐磨测头,特快反应速度,一体测头
可测有色金属基体上涂层
量程1500μm,精度±1μm+1%读数
分辨率0.1μm.背景光
Surfix PBN膜厚仪技术参数:
| 测量范围 | 0-1500μm,0 - 60mils |
| 误差 | ±（1μm+1%读数） |
| 分辨率 | 0.1μm或小于读数的2% |
| 显示 | 背光，字母加数字，10mm高，4位数字显示 |
| 基体zui小面积 | 5mmX5mm |
| 基体zui小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm |
| 基体zui小厚度 | F型：0.5mm ,N型：50μm |
| 校准 | 厂家校准，零校准，校准箔校准 |
| 数据统计（统计型） | 读数个数（zui多9999个），平均值，标准偏差，zui大值和zui小值 |
| 数据存储（统计型） | zui多80个测量数值,可单独调出 |
| 数据值（统计型） | 上下限可调,声音报警 |
| 数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
| 环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃ （可选配150℃ ） |
| 电源 | 2节1.5伏七号碱性电池 |
| 仪器尺寸 | 107X50X25mm |
| 符合标准 | DIN，ISO，ASTM，BS |
| Surfix PBN膜厚仪操作语言 | 英语、德语或法语 |
