LED老化试验箱,高低温老化试验箱

LED老化试验箱,高低温老化试验箱

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具体成交价以合同协议为准
2021-04-01 10:57:38
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东莞市科文试验设备有限公司

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产品简介

符合标准:GJB150.3 高温试验 GJB150.4 低温试验GB11158 高温试验箱技术条件 GB10589 低温试验箱技术条件 GB10592-89 高低温试验箱技术条件 GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法 GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法 GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法 IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法 IEC6

详细介绍

LED老化试验箱技术参数:

型号:KW-GD-80   内形尺寸:400×500×400    外箱尺寸:970×1360×970 

型号:KW-GD-150  内形尺寸: 500×600×500    外箱尺寸:1070×1460×1070
型号:KW-GD-225  内形尺寸:500×750×600    外箱尺寸:1070×1610×1170
型号:KW-GD-408  内形尺寸: 600×850×800    外箱尺寸:1170×1710×1280
型号:KW-GD-800  内形尺寸:1000×1000×800  外箱尺寸:1550×1850×1300

型号:KW-GD-1000 内形尺寸:1000×1000×1000 外箱尺寸:1550×1850×1500

1、产品型号:KW-GD-80/KW-GD-150/KW-GD-225/KW-GD-408/KW-GD-800/KW-GD-1000

2、容积分别:80L、150L、225L、408L、800L、1000L

3、温度范围:Z:0℃~150℃,T:-20℃~150℃,F:-40℃~150℃,S:-70℃~150℃ 

4、温度波动度:≤±0.5℃

5、温度均匀度:≤±2℃

6、湿度波动:±2.5%R.H

7、升温速率: 1.0~3.0℃/min 

8、降温速率: 1.0~1.3℃/min

 

符合标准:GJB150.3 高温试验 GJB150.4 低温试验GB11158 高温试验箱技术条件 GB10589 低温试验箱技术条件 GB10592-89 高低温试验箱技术条件 GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法 GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法 GB/T2423.22-2001 温度变化试验方法 IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法 IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法 

 

控制器操作运行画面:

 

*制冷机组:

 

用于行业:

LED老化试验箱是LED行业产品*的可靠性试验设备。用于测试LED、LCD、LED光电、LED显示器、LED模组、电子、电器、连接器、五金、LED、LCD、模组、模块、手机、塑胶、显示器、二三极管、机箱、电镀、插头、电脑、玩具、电源、电线、IC、磁铁、线路板、马达、电机、汽车配件、家电、通信、化工、涂料、科研、航天、、模组、家具、主板、集成电路、太阳能光伏等领域。

 

设备用途:

LED高低温老化试验箱用来测试LED产品及以上产品的可靠性能。模拟环境温度有高低温、高温、低温、高低温循环、高低温恒定等不同温度试验。模拟LED产品及材质经过高温、低温交替变化后是否有故障、质变、无法正常工作的情况,可以满足不同的高低温要求。高低温试验箱是实验室品检的*之设备。

 

 

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