电子产品高低温冲击试验箱型号及技术参数：（W×H×D）   （mm）

KW-TS-50     内箱尺寸：350×350×400    外箱尺寸：1560×1750×1440

KW-TS-80     内箱尺寸：500×400×400    外箱尺寸：1700×1800×1440

KW-TS-100    内箱尺寸：600×400×400    外箱尺寸：1800×1800×1440

KW-TS-150    内箱尺寸：600×500×500    外箱尺寸：1800×1900×1540

KW-TS-250    内箱尺寸：700×600×600    外箱尺寸：1900×2000×1640

KW-TS-480    内箱尺寸：800×800×750    外箱尺寸：2020×2250×2150

温度范围：F:-40~+150 ℃        X:-55~+150℃         S:-60~+150℃

电       源：∮5W AC38O±10%  50/60HZ

高温室：预热温度范围，RT+20℃~200℃

升温时间：+20℃~+200℃约30min

低温室：预冷温度范围，RT~-80℃

降温时间：+20℃~-80℃约80min

实验室冲击：温度均匀度±2.0℃

产品用途：

电子产品高低温冲击试验箱，电子高低温冲击试验，电子元件高低温冲击测试箱适用于电子产品、电子元器件、电容、电阻、电源、电池、光电、电路板、线路板、光纤、光伏组件、塑胶制品、橡胶、金属、塑胶原料、不干胶、印刷、建材、LED、LCD、PCB、电子等材料行业*的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经*温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

电子产品高低温冲击试验箱满足标准：

GB/T2423.1-2008试验A低温试验方法

GB/T2423.2-2008试验B高温试验方法

GB-T10592-2008高低温箱技术条件

GJB150.3-1986军用设备环境试验方法：高温试验

GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求

电子产品高低温冲击试验箱特点：

1.采用彩色中英文LCD触控式图控操作介面， 操作简易。

2.设备区分为高温区、低温区、测试区三部分， 各区之箱体釆*之断热结构。

3.冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区， 做冷热冲击测试。

4.高温冲击或低温冲击时， 大时间可达9999分钟， 大循环周期可达9999次。

5.系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。

6.冷却采二元冷冻系统， 降温效果快速， 冷却方式为风冷式或水冷式两种。

7.可连接电脑， 记录仪仅为选购件。

电子产品高低温冲击试验箱箱体结构：

1、箱体外壁材料：外表面钢板喷塑。

2、箱体内壁材料：SUS304不锈钢板。

3、整个箱体分为上、中、下三个区分别为高温区、测试区、低温区  冲击试验时自动打开高温区与低温区的风阀从而达到高温与低温的冲击试验

4、保温材料：保温层采用耐高温防火PU和隔热高密度纤维棉。

电子产品高低温冲击试验箱安全保护措施:

1、工作室超温；

2、制冷机超压；

3、制冷机过载；

4、制冷机油压；

5、加热器短路、过载；

6、鼓风电机过载；

7、系统漏电保护；

电子产品高低温冲击试验箱设备使用条件

1、环境温度：5～28℃

2、环境湿度：≤85%R?H

3、保证性能的条件：（在下达条件下，保证低可达-85℃）

4、需安装冷却量为  10吨的冷却塔（制冷系统用）