温湿度试验箱对LED芯片来料检验规范

1. 目的

1.1 制訂LED CHIP FQC檢驗規範。

1.2 訂定成品入庫批允收程序，以確保產品品質達一定水準。

2. 範圍

本公司生產之所有LED產品均屬之。

3. 內容

3.1 檢驗測試項目

3.1.1 光電性檢驗

3.1.2 外觀檢驗

• 數值標示檢驗。

3.2 抽樣計畫（片數定義：晶片片數）

3.2.1 依「產品檢驗抽樣計劃：LED芯片温湿度循环试验箱对LED芯片，LED晶片進行溫濕度，恒溫恒濕，高溫高濕，高低溫循环，溫濕度老化試驗等」(WI-20-0101) 抽片執行檢驗。

3.2.2 光電特性檢驗（VFH、VFL、IV）

（1）抽樣位置：分頁片邊緣4顆，分頁片內圍6顆，均勻取樣。

（2）抽樣數量：每片10顆。

（3）每片抽樣數，每一顆不良，則列一個缺點。

3.2.3 外觀檢驗 LED芯片溫濕度試驗箱

  （1）PS TYPE不良晶粒＞2ea／sheet，列入一個缺點。

  （2）NS TYPE或PS TYPE分頁面積長距離＜6.5 cm者，不良晶粒＞

 5ea／sheet，且＞10 ea／wafer 列入一個缺點。