镀层厚度测量XUL 系列
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惠州市华高仪器设备有限公司
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XUL 系列
在电镀或电子元件生产过程中需要快速且精确地测定镀层厚度时,XUL? 系列测量仪器是您的解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量,能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。
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