变压器损耗产生原因有哪些？

变压器损耗是现代物理学领域的概念，是指空载损耗P。和短路损耗Pk之和。 　　

空载损耗P0 　　
当用额定电压施加于变压器的一个绕组上，而其余的绕组均为开路时，变压器所吸收的有功功率叫空载损耗。　　

短路损耗Pk 　　
 对双绕组变压器来说，当以额定电流通过变压器的一个绕组，而另一个绕组短接时变压器所吸收的有功功率叫做变压器的短路损耗。对于多绕组

变压器，短路损耗是以的一对绕组为准。

变压器损耗产生的两大原因:
*、绕制变压器时需要大量的铜线，这些铜导线存在着电阻，电流流过时电阻会消耗一定的功率，这部分损耗往往变成热量而消耗，这种损耗称为“铜损”;

第二、当变压器的初级绕组通电后，线圈所产生的磁通在铁芯流动，因为铁芯本身也是导体，在垂直于磁力线的平面上就会感应电势，这个电势在铁芯的断面上形成闭合回路并产生电流，称为“涡流”。这个“涡流”增加了变压器的损耗，导致变压器的铁芯发热，变压器的温升增加。由“涡流”所产生的损耗我们称为“铁损”'；

所以变压器的温升主要由铁损和铜损产生的。由于变压器存在着铁损与铜损，所以它的输出功率永远小于输入功率，用效率η表示输出功率与输入功率的关系：η=输出功率/输入功率。

产品特征

1、超大液晶中文显示 
操作简单，仪器配备了的全触摸液晶显示屏，超大全触摸操作界面，每过程都非常清晰明了，操作人员不需要额外的专业培训就能使用。轻轻点击一下就能完成整个过程的测量，是目前非常理想的智能型介损测量设备。

2、海量存储数据 
仪器内部配备有日历芯片和大容量存储器，能将检测结果按时间顺序保存，随时可以查看历史记录，并可以打印输出。

3、科学*的数据管理 
仪器数据可以通过U盘导出，可在任意一台PC机上通过我公司软件，查看和管理数据。

4、多种测试模式 
仪器能够分别使用内高压、外高压、内标准、外标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试；在外标准外高压情况下可以做高电压（大于10kV）介质损耗。

5、CVT测试一步到位 
该仪器还可以测试全密封的CVT（电容式电压互感器）C1、C2的介损和电容量，实现了C1、C2的同时测试。该仪器还可以测试CVT变比和电压角差。

6、不拆高压引线测量CVT 
仪器可在不拆除CVT高压引线的情况下正确测量CVT的介质损耗值和电容值。

7、CVT反接屏蔽法测量C0 
仪器可采用反接屏蔽法测量CVT上端C0的介质损耗值和电容值。

8、高速采样信号 
仪器内部的逆变器和采样电路全部由数字化控制，输出电压连续可调。

9、多重保护安全可靠 
仪器具备输入电压波动、输出短路、过压、过流、温度等多重保护措施，保证了仪器安全、可靠。仪器还具备接地检测功能，确保不接地设备不允许升压。

参数

1、使用条件：-15℃∽40℃        RH＜80% 
2、抗干扰原理：变频法 
3、电    源：AC 220V±10%允许发电机 
4、高压输出：0.5KV∽10KV   每隔0.1Kv 
      精度2%  
      大电流 200mA 
      容    量 2000VA 
5、自激电源：AC 0V∽50V/15A     45HZ/55HZ  55HZ/65HZ 
6、分 辨 率：tgδ:  0.001%      Cx: 0.001pF 
7、精    度：△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%) 
        △C x :±(读数*1.0%+1.00PF) 
8、测量范围：tgδ  无限制 
        C x 15pF ＜ Cx ＜ 300nF 
        10KV  Cx ＜ 60  nF 
        5KV Cx ＜ 150 nF 
        1KV       Cx ＜ 300 nF 
        CVT测试  Cx ＜ 300 nF 
9、CVT变比范围：10∽10000 
10、CVT变比精度：0.1% 
11、CVT变比分辨率：0.01 
12、外型尺寸：430（L）×350（W）×350（H） 
13、存储器大小：200 组支持U盘数据存储 
14、重    量：28 Kg  

附件清单