光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号：DP-GCK-I

本仪器适用于实时监测曝光量或曝辐量。用户可以根据工作需要设定预置值，仪器在监测量达到预置值时发声报警。该仪器可广泛应用于材料老化、紫外杀菌、光化学、大规模集成电路光刻等域。

光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 型号：DP-GCK-I

光辐射自动测控仪/光辐射测控仪 主要性能和指标：

1．测量波段与量程：
测量范围
（nm） 峰值波长
（nm） 量 程 主要用途
辐照度 曝光（辐）量
350—1050 半 宽
400—1000 999 mW/cm2 9999.9 MJ/m2 材料老化
230—290 254 9.99 mW/cm2 999.99 mJ/cm2 紫外杀菌
320—400 365 9.99 mW/cm2 999.99 mJ/cm2 印刷、光刻
380—460 420 9.99 mW/cm2 999.99 mJ/cm2 印刷

注：表中所列为常用波段和量程，用户选购仪器时要确认工作波段以及量程。用户也可选择其它波段，例如峰值波长为313nm或340nm，但是要提前就主要指标与部沟通，双方确认后再签购销合同。定制产品原则上不予退货。
2．仪器显示：本仪器有两个LED显示窗口，其中光辐照度显示3位，
曝光量显示5位，两窗口的量程由用户参照上表确定。
3．光辐照度及曝光量精度：±5% （相对于NIM标准）
4．使用环境：温度：20℃±20℃ 湿度 <80%
使用光纤传光束时，试验箱的温度可达到80℃左右。
5．电源：AC 220V

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