HemiView数字植物冠层分析系统

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名称：数字植物冠层分析系统         型号：HemiView         产地：英国

用途：HemiView通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。

原理：使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入软件，进行分析处理。

技术规格：

输出参数：
·天空几何：质心，立体角和像素计算用于每个天空扇区；
·间隙粒级：比例的可见天空扇区；
·叶面积指数：天空扇区或全部数值；
·太阳辐射：直射和散射，冠层上方和下方，能量或质量单位；
·位置因数：直接，间接（散射），全部；
·时间序列和Sunflecks：可查看日期的日盘（半阴影作用）和太阳辐射，用户自定义的采样间隔时间或sunfleck顺序
·可选余弦修正：可用任何方位的截取表面；
·全部数值：大部分输出能将天空扇区表格化，集合到单个全天空或年数值中。

时间序列计算光照示例图