北京华测耐漏电起痕测试装置

北京华测耐漏电起痕测试装置是根据GB 4706.1-2008 GB 4207-2003 GB/T6553-2003 IEC60112 -2003《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》，UL 746A、ASTM D 3638-92、DIN 53480等标准规定的模拟试验项目。
  HCLD-200耐漏电起痕试验仪是在固体绝缘材料表面上，在规定尺寸( 2mm × 5mm )的铂电极之间，施加某一电压并定时(30s)定高度( 35mm )滴下规定液滴体积的污染液体(0.1%NH 4 CL)，用以评价固体绝缘材料表面在电场和污染介质联合作用下的耐受能力，测定其相比电痕化指数(CT1)和耐电痕化指数(PT1)。
   HCLD-200北京华测耐漏电起痕测试装置适用于照明设备、低压电器、家用电器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门，也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业。，也适用于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PT003耐电痕化指数测试。