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GDAT-A 介电常数和介质损耗测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的*方法:
介电常数和介质损耗测试仪特点:
◎ 本公司创新的自动Q值读取技术,使测Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成发生1kHz~70MHz,测试信号。
◎ 低至20nH残余电感,保证高频时直读Q值的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ 数字化Q值预置,能提高批量测试的可靠性和速度。
介电常数和介质损耗测试仪主要技术指标:
2.1 测试信号频率范围:1kHz~70MHz,数字合成,可数字设置或连续调节,五位有效数显。
2.2 Q值测量范围:1~1000四位数显,分辨率0.1Q。分100、316、999三档,量程可自动切换。
2.3 Q值固有误差:±5%±3% 满刻度值。
2.4 有效电感测量范围:0.1μH~1000mH。
2.5 电感测量误差:≤5%±0.02μH
2.6 调谐电容特性:
2.6.1可调电容范围:40pF~500 pF。
2.6.2 精确度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微调电容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4残余电感值:约30nH。
2.7 Q预置功能:Q预置范围:1~1000均可。被测件达到预置值后有“GO”显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量:415×180×170(mm),6.5kg。
BH916 介质损耗测试装置(数显)
BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
本测试装置是由测微平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样,由平板电容器的刻度读数变化,通过公式计算得到介电常数。
介电常数和介质损耗测试仪工作特性:
☆Q值测量:
a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
频率范围:20kHz~10MHz; 固有误差:≤5%±满度值的2%;工作误差:≤7%±满度值的2%;
频率范围:10MHz~60MHz; 固有误差:≤6%±满度值的2%;工作误差:≤8%±满度值的2%。
☆电感测量:
a.测量范围:14.5nH~8.14H。
b.分 档:分七个量程。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
☆电容测量:
a.测量范围:1~460pF(460pF以上的电容测量见使用规则);
b.电容量调节范围
主调电容器:30~500pF; 准 确 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则
☆振荡频率:
a.振荡频率范围:10kHz~50MHz;
b.频率分段(虚拟)
10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~60MHz
c.频率误差:3×10-5±1个字。
☆仪器正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃; b.相对湿度:<80%; c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
☆其他
a.消耗功率:约25W; b.净重:约7kg; c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
☆ Q合格指示预置功能
预置范围:5~1000。
介电常数和介质损耗测试仪
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH