涂层测厚仪的校准方法

    一、涂层测厚仪校零

    将测量探头压在铁基上(或不带涂层的测量体上)，再轻按一下校零键ZERO进行校零。在按ZERO键时，测量探头在铁基上不要晃动。同时要注意，只有在按完ZERO键后，才能提起探头，否则，校零不正确。将测量探头提起(或不带涂层的测量体上)，观察铁基上的测量值，若测量值在0附近，说明校零成功，否则，应得新校零。

    二、涂层测厚仪校满度

    根据要测量的涂层厚度，选择 适当的标准膜片，进行满度校准。先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。

    如果在校准时发现膜片测量误差大或不能测量时，请按下例步骤操作：

    1.按住开关机键不松手直到显示器出现”CAL”(此过程大约需要4秒钟)，显示器会显示”F:H”，此时轻按校零键确认(探头一定要悬空)。

    2.按住开关机键不松手直到显示器出现”Ln” (此过程大约需要9秒钟)显示器会出现”0.8XX”的数字，如果在测试中发现数据偏大，也就是说127um正确，而420um左右的膜片偏大，可将该数字加大(用”+”键)，反之将该数字减小(用”-“键)。大约该数字每加大0.001，420um左右会相应减小2um，然后按校零键确认。(探头一定要悬空)

    3.无论是操作*步和第二步结束后，均应在操作结束后重新校零。