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CMI760CMI760台式PCB孔铜/面铜测厚仪
CMI 760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。同时CMI 760具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。 参考价面议 -
FP-92-0601 FP-92-1000离子交换树脂 离子交换柱
离子交换树脂 离子交换柱。4只起订。
FP-92-0601 离子交换柱，适用于Ionograph 500M系列离子污染测试仪
FP-92-1000 离子交换柱，适用于Omegameter 600SMD系列离子污染测试仪 参考价面议 -
UPAUPA纯元素镀层标准片 薄膜片
UPA镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。 参考价面议 -
CalMetricsCalMetrics合金层镀层标准片 薄膜片
UPA和Calmetrics镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。 参考价面议 -
UPA双层电镀标准片
双层电镀镀层标准片，含有底材的标准片。不容易破损，但是灵活性没有比薄膜片好。 参考价面议 -
UPA无穷大标准片
无穷大标准片，也就是底材，有纯元素及合金材料。底材搭配薄膜片一起完成X射线测厚仪的档案建立及校正。 参考价面议 -
CalMetricsCalMetrics镀层标准片
UPA和Calmetrics镀层标准片适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。 参考价面议 -
DJH-D电解（库仑）测厚仪
测量镀种：标准配置：可测铬、镍、铜、锌、锡、银、金等金属镀层，复合镀层（如Cr/Ni/Cu）约20几种镀层/基体组合。如需测量其他镀层可事先提出 参考价面议 -
WBL400WBL400锅炉控制器 WCM400冷凝水监控器
WBL/WDB400锅炉控制器和WCM/WDC400冷凝控制器是Walchem的技术及创新进步的象征，它*拥有你心目中的冷却塔标准功能，另外增加了简易资料管理工具（可选），使水处理专家给用户带来更有效的服务。 参考价面议 -
WDIS410WDIS410系列净化控制器 消毒控制器
美国禾威 WDIS 系列净化/消毒控制器是一种可靠而又经济的水处理净化/消毒控制制程设备，无需额外添加药剂，使用者可选择四种传感器输入：游离氯，二氧化氯，臭氧，高酸。可选 4－20mA 输出可发送数据到 WebMaster，WebAlert，图表记录仪， 或者数据自动记录到预设文件。 参考价面议 -
BLMP-2BBLMP-2B金相研磨抛光机
本机为双盘，双速研磨，抛光两用机，左盘560转，右盘1000装。该机通过双盘以及不同的研磨抛光介质来实现用户的粗磨、精磨、粗抛、精抛光制样过程，本机操作简单，经济实用，是中小企业理想的金相制样设备。 参考价面议 -
BL-GT650BL-GT650凝胶化时间测试仪
BL-GT650型凝胶化时间测试仪按IPC-TM-650试验方法手册中的试验方法2.3.18设计制造，专业用于测试半固化及树脂的凝胶化时间。配有必需的各种测试工具。 参考价面议