德国EPK-MiniTest 1100涂镀层测厚仪

MiniTest 1100德国EPK-MiniTest 1100涂镀层测厚仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2015-06-27 23:49:19
385
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产品简介

德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;

详细介绍

德国EPK-MiniTest 1100涂镀层测厚仪


德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准。

MiniTest 1100涂镀层测厚仪功能

型号
 
1100
 
2100
 
3100
 
4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
 
1
 
1
 
10
 
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,并可设宽容度极限值)
 
-
 
1
 
10
 
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
 
-
 
1
 
500
 
500
数据总量
 
1
 
10000
 
10000
 
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
 
-
 
 
 
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
-
 
-
 
 
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
 
-
 
-
 
 
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
-
 
-
 
 
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
 
-
 
-
 
-
 
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
 
-
 
-
 
 
显示并打印测量值、打印的日期和时间
 
-
 
 
 
其他功能
透过涂层进行校准(CTC)
 
-
 
 
 
在粗糙表面上作平均零校准
 
 
 
 
利用计算机进行基础校准
 
 
 
 
补偿一个常数(Offset)
 
-
 
-
 
 
外设的读值传输存储功能
 
-
 
 
 
保护并锁定校准设置
 
 
 
 
更换电池是存储数值
 
 
 
 
设置极限值
 
-
 
-
 
 
公英制转换
 
 
 
 
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值
 
-
 
-
 
 
连续测量模式中测量稳定后显示读数
 
-
 
-
 
 
浮点和定点方式数据传送
 
 
 
 
组内单值延迟显示
 
-
 
 
 
连续测量模式中显示zui小值
 
 
 
 

MiniTest2100涂层测厚仪可选探头参数( 探头图示
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

德国EPK公司MiniTest 1100涂层测厚仪探头参数

 
探头
 
量程
 
低端
分辨率
 
误差
 
zui小曲率
半径(凸/凹)
 
zui小测量
区域直径
 
zui小基
体厚度
 
探头尺寸
 



 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
F05
 
0-500μm
 
0.1μm
 
±(1%±0.7μm)
 
1/5mm
 
3mm
 
0.2mm
 
φ15x62mm
 
F1.6
 
0-1600μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
1.5/10mm
 
5mm
 
0.5mm
 
φ15x62mm
 
F1.6/90
 
0-1600μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
平面/6mm
 
5mm
 
0.5mm
 
φ8x8x170mm
 
F3
 
0-3000μm
 
0.2μm
 
±(1%±1μm)
 
1.5/10mm
 
5mm
 
0.5mm
 
φ15x62mm
 
F10
 
0-10mm
 
5μm
 
±(1%±10μm)
 
5/16mm
 
20mm
 
1mm
 
φ25x46mm
 
F20
 
0-20mm
 
10μm
 
±(1%±10μm)
 
10/30mm
 
40mm
 
2mm
 
φ40x66mm
 
F50
 
0-50mm
 
10μm
 
±(3%±50μm)
 
50/200mm
 
300mm
 
2mm
 
φ45x70mm
 


 
 
 
 
 
 
FN1.6
 
0-1600μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
1.5/10mm
 
5mm
 
F0.5mm
N50μm
 
φ15x62mm
 
FN1.6P
 
0-1600μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
平面
 
30mm
 
F0.5mm
N50μm
 
φ21x89mm
 
FN2
 
0-2000μm
 
0.2μm
 
±(1%±1μm)
 
1.5/10mm
 
5mm
 
F0.5mm
N50μm
 
φ15x62mm
 



 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
 
0-200μm
 
0.1μm
 
±(1%±0.5μm)
 
1/10mm
 
2mm
 
50μm
 
φ16x70mm
 
N.08Cr
 
0-80μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
2.5mm
 
2mm
 
100μm
 
φ15x62mm
 
N1.6
 
0-1600μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
1.5/10mm
 
2mm
 
50μm
 
φ15x62mm
 
N1.6/90
 
0-1600μm
 
0.1μm
 
±(1%±1μm)
 
平面/10mm
 
5mm
 
50μm
 
φ13x13x170mm
 
N10
 
0-10mm
 
10μm
 
±(1%±25μm)
 
25/100mm
 
50mm
 
50μm
 
φ60x50mm
 
N20
 
0-20mm
 
10μm
 
±(1%±50μm)
 
25/100mm
 
70mm
 
50μm
 
φ65x75mm
 
N100
 
0-100mm
 
100μm
 
±(1%±0.3mm)
 
100mm/平面
 
200mm
 
50μm
 
φ126x155mm
 
CN02
 
10-200μm
 
0.2μm
 
±(1%±1μm)
 
平面
 
7mm
 
无限制
 
φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。

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