高温蒸煮仪用途：该试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。 

 
高温蒸煮仪特点：
1.微电脑温度控制器P.I.D. + P.W.M. + S.S.R. 控制LED数字显示.
2.白金温度感知器（PT-100）与精确的温度可控制解析能力0.1C.
3.蒸汽试验目标温度设定控制/蒸汽试验运转计时时间设定控制.
4.全自动安全保护装置、双重高温保护/蒸汽用水断水空焚保护装置..

高温蒸煮仪参数：
　　a.型号:PCT-35
　　b.内部尺寸:Φ350×D500（mm）外部尺寸:580×850×650（mm）
　　c.温度范围:100℃～132℃
　　d.湿度范围:00%RH饱和蒸气
　　e.压力范围:环境大气压+0～4kg/cm2
　　f.循环方式:水蒸气自然对流循环
　　g.内箱材质:不锈钢板材质#SUS304外箱材质:不锈钢板材质#SUS304
　　h.时间范围:0～999Hr加压时间:0.00Kg～2.00Kg/cm2约45分钟

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