一、抗干扰介损测试仪概况
本仪器是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗*力强， 测试时间短等优点，是我厂的第三代抗干扰介质损耗测试仪。
二、抗干扰介质损耗测试仪技术指标
1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照）
2、相对湿度：30%～70%
3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz
4、外形尺寸：长*宽*高=500mm*300mm*400mm
5、重量：28kg
6、输出功率：1.5KVA
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10KV电压大于30000PF）
外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定
10、基本测量误差：
介质损耗（tgδ）：1%±0.04%
电容容量（Cx）：1%±1pF

关键词：抗干扰介质损耗测试仪，抗干扰介损测试仪，介损测试仪

三、结构
仪器为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV～10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。