X射线荧光镀层厚度测量仪 （SFT9200系列）

产品简介

　　是改进SEIKOSFT3000而上市的一种新产品，添加了SFT3000系列没有的激光对焦，自动样品台等功能，使使用者操作更简便更快捷的仪器。与他社仪器相比具有2048通道的MCA采样分析电路，大大减小了分析误差并配备了5种圆形，方形准直器，不受样品形状的影响能够更准确地进行测量。
　　
　　产品介绍：
　　型号：SFT9200／SFT9250／SFT9255
　　仪器的特长：广泛应用型
　　可测量元素：原子序号22（Ti）～83（Bi）
　　X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（W靶）
　　管电压：45kV管电流：1mABe窗
　　滤波器：一次滤波器：A1-自动切换
　　二次滤波器：Co-自动切换
　　照射方式：上方垂直照射方式
　　检测器：比例计数管
　　仪器校正：自动校正
　　准直器（标准配置）：○型（三种）
　　□型（三种）
　　安全性能：样品室门锁，样品防冲撞功能
　　样品图像对焦：有（激光对焦）
　　样品观察：CCD摄像头固定倍率、卤素灯照明
　　焦点切换功能：3段切换9200：10／40／70mm
　　9250：10／25／40mm
　　应用  单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、无电解镍（zui多可测5层）
　　软件  薄膜FP法软件
　　测量功能：自动测量、中心搜索、图像处理
　　修正功能：基材修正、已知样品修正、人工输入修正
　　统计处理功能：MS-EXCEL®
　　报告制作功能：MS-WORD®