HC-QB雷达物位计

HC-QBHC-QB雷达物位计

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-14 09:00:00
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金湖宏创仪表有限公司

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产品简介

品牌 宏创 型号 HC-QB
类型 雷达物/液位计 测量范围 0-70M
测量精度 1MM 压力等级 6(Mpa)
分辨率 1mm

详细介绍

品牌 宏创 型号 HC-QB
类型 雷达物/液位计 测量范围 0-70M
测量精度 1MM 压力等级 6(Mpa)
分辨率 1mm    

 

性与优势:
无盲区,高精度
两线制技术,是差压仪表、磁致伸缩、射频导纳、磁翻板仪表的优良替代产品。
不受压力变化、真空、温度变化、惰性气体、烟尘、蒸汽等环境影响
安装简便,牢固耐用,免维护
HART或PROFIBUS-PA通信协议及基金会现场总线协议,标定简便、通过数字液晶显示轻松实现现场标定操作,通过软件GDPF实现简单的组态设定和编程
测量灵敏,刷新速度快。
适用于高温工况,高达200℃过程温度,当采用高温延长天线时可达350℃

测量原理
雷达物位计天线发出微波脉冲,在被测物料表面产生反射,并被雷达系统所接收。

输入
天线接收反射的微波脉冲并将其传输给电子线路,微处理器对此信号进行处理,识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号识别由智能软件完成,精度可达到毫米级。距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比:
D=C×T/2
其中C为光速
因空罐的距离E已知,则物位L为:
L=E-D

输出
通过输入空罐高度E(=零点),满罐高度F(=满量程)及一些应用参数来设定,应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4-20mA输出。
测量盲区
盲区(BD)是从测量参考点到zui高物位时的介质表面的zui小距离。

 

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