Sartorius赛多利斯M-Pact精密|分析天平

M-PactSartorius赛多利斯M-Pact精密|分析天平

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具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 13:59:06
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苏州赛恩斯仪器有限公司

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产品简介

量程zui大6,200 g
分辨率zui大0.1 mg
自动内校
较大称量平台

详细介绍

 

Sartorius赛多利斯M-Pact精密|分析天平

M-class天平是专为实验室和学校初次使用天平的用户而设计。各种型号,从用于自然科学研究的便携式精密天平,到自动校准的高精度分析天平,

赛多利斯

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