YT-H4E电脑薄膜厚度测定仪

电脑薄膜厚度测定仪是薄性材料厚度测定的仪器，广泛适用于薄膜及其他片状材料厚度测定；是包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。

应用范围

• 薄膜

产品特性

• 一键测试，简单易懂
• 主板采技术全新设计，CPU采用

32位的ARM处理器，提高了仪器的处理

速度，计算数据更加精确快速

• 采用5寸彩色触摸屏，中文显示、触摸

按键，使操作变得简单易懂

• 测头上升下降速度可调
• 自动测量、统计、打印测试结果，并具

有数据保存功能

• 采用热敏打印机芯，无须使用油墨和色带、工作时无噪音、打印速度快等特点
• 本仪器配有标准RS232接口，可配合微机软件进行通讯(另购)

主要技术参数

• 电源电压             AC(100～240)V，(50/60)Hz
• 型号                YT-H4E(薄膜)         YT-H12E(薄膜)          
• 测量范围            (0～4)mm             (0～12)mm       
• 分辨率             0.1um               0.1um          
• 重复性             0.4um               0.4um
• 接触面积              50 mm²               50 mm²    
• 接触压力            (17.5±1)kPa         (17.5±1)kPa      
• 测头下降速度       （0.5～10）mm/s可调
• 打印                 内置热敏打印机
• 通信输出             RS232
• 外形尺寸            320×310×400 mm
• 仪器净重            ≤26.5kg

标准配置

• 电脑厚度测定仪主机
• 打印纸
• 电源线
• RS232接口及微机软件(另购)

执行标准

• GB/T 451.3，QB/T 1055，GB/T 24328.2，ISO 534，GB/T 6672-2001