15J测量显微镜刻度式
用途
测量显微镜刻度式是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，用途如下：
1．直角坐标中测定长度，例如测定孔距、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径、电线电缆绝缘皮厚度等。
2．转动度盘测定角度，例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3．用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等等。
规格
物 镜 | 目 镜 | 显微镜 放大倍数 | 工作距离（mm） | 视场直径（mm） |
放大倍数 | 焦距（mm） | 放大倍数 | 焦距（mm） |
2.5X/0.08 | 43.40 | 10X | 25.00 | 25X | 58.84 | 5.6 |
10X/0.25 | 17.13 | 100X | 7.81 | 1.4 |
测量工作台读数装置主要规格
X轴移动测量范围 50 mm
Y轴移动测量范围 13 mm
测量台刻度盘分度范围 0°?360°
测量台刻度盘之分度值 1°
测量台刻度盘游标读数示值 6’
测量精度
仪器示值误差：±（5+L/15）μm
仪器示值误差：包括测量误差与仪器系统误差
注：测量地点温度变化（20±3）℃
L-被测件长度（mm）
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