两箱式高低温冲击试验箱

两箱式高低温冲击试验箱

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:04:08
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上海千塔机电科技有限公司

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产品简介

两箱高低温冲击试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

详细介绍

符合的测试规范有：MIL STD,GB,JIS,JEDEC,IEC等。
产品优势： 
  1. 采用上下移动式温度冲击的方式，待测品在吊篮内上下移动。
  2. 采用7.7英寸彩色液晶触摸屏控制器。
  3. 吊篮移动时间：8S 内。
  4. 温度回复时间：3~5min，可满足各种测试规范。
  5. 程式容量：可编辑10组程式，单段冲击时间0~999分钟。
  6. 循环设定：0~9999次。 
  7. 安全检知：全功能之系统侦测,确保机台运转安全.并可自动显示故障项目。
  8. 外部保护：独立式超温保护装置,可设定受测对象的温度上下限保护。  
  9. 通信接口：附RS-232及RS-485之标准通信接口装置。　
　
温度冲击曲线图：
控制器界面简介：
主画面
运行画面
程式画面
辅助设定画面
可选项目（option）：
 型号含义：
  1. USB试验资料读取装置
  2. 温度自动记录器 
  3. LN2快速降温系统 
　
　
　 　 　
具体规格/SPEC:
 　
※    其它尺寸要求，可按客户要求定制
型号
Q-TCT- 01
Q-TCT- 02
Q-TCT- 03
测试区域尺寸
（WHD）
40cm×40cm×40cm
60cm×60cm×60cm
80cm×80cm×80cm
外部的尺寸
（WHD）
156cm×200cm×152cm
171cm×205cm×152cm
180cm×205cm×162cm
测试温度范围
高温：+60℃~+150℃
低温：-10℃~-40℃ / -10℃~-55℃ / -10℃~-65℃
负载
5KG
10KG
15KG

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