表面绝缘阻抗测试（SIR）

(Surface Isolation Resistance Test )

应用：

    离子迁移测试评估

    绝缘电阻性能劣化测试评估

    a.印刷电路板，焊剂，焊锡等电子组装材料

    b.BGA,CSP等微间距图形(Fine-pitch Pattern) IC封装

    c.PDP

    d.电容器，连接器

特色：   

绝缘电阻量测范围 1E＋6~ 1E＋13欧姆

独立测试电压与量测电压分别设定

应力电压输出范围：0~500V

模组化通道设计，可独立操作使用

*由软件设定的校正功能

实时数据或图形显示

结果分析图表显示